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高科技牛了,大功率晶圓測試被搞定了!

返回列表 來源:半導體行業(yè)觀察 瀏覽: 發(fā)布日期:2021-03-16 09:57【
文章導讀:當下,高電壓/電流市場是目前半導體應用中增長最快的領域之一。在電動化和可再生能源發(fā)展的推動下,新一代電力電子器件也同時在推動MOSFET和IGBT的發(fā)展,這也帶動了碳化硅(SiC)和氮化鎵(GaN)等其它新基質(zhì)的日益普及。
        當下,高電壓/電流市場是目前半導體應用中增長最快的領域之一。在電動化和可再生能源發(fā)展的推動下,新一代電力電子器件也同時在推動MOSFET和IGBT的發(fā)展,這也帶動了碳化硅(SiC)和氮化鎵(GaN)等其它新基質(zhì)的日益普及。
 
高科技
 
        作為高電子遷移率晶體管(HEMT)之一的氮化鎵GaN。與其它基于硅的MOSFET器件相比,它的優(yōu)勢顯著體現(xiàn)在禁帶寬大、開關切換時間極短、更高的功率密度和擊穿電壓,以及更好的熱導率。如今,它被廣泛應用于電力電子領域,如手機快速充電器、軍用雷達設備、高速軌道交通和5G網(wǎng)絡等。
 
        與GaN一樣,SiC也具備高電壓和高溫的特點,但由于其壓敏電阻特點,在600V或更高電壓上,與GaN相比則有更好的表現(xiàn)。作為第一個成功商業(yè)化的寬禁帶半導體SiC,從2018年被應用到特斯拉汽車上以來,混合動力汽車和電動汽車以及充電站便成為了SiC功率半導體市場快速增長的主要動力。
 
        隨著SiC/GaN 器件技術的成熟, 以及其成本的不斷降低,SiC/GaN 器件有望加速滲透。根據(jù) Yole 預測,2023 年 SiC、GaN 電力電子器件的市場規(guī)模將分別增長至 14 億和 3.7 億美元,市場滲透率分別達到 3.75%和1%。GaN 射頻器件在 5G 宏基站建設和國防建設的旺盛需求下,疊加 GaN 射頻器件成本下降,需求有望快速放量,根據(jù) Yole 數(shù)據(jù)預測,2023 年 GaN 射頻器件需求量將達到 194.3 百萬個,19- 23 年 CAGR 達到 85.8%。
 
        在科技迅猛發(fā)展的大背景下,電力電子世界一直被視為一個較為保守的領域,SiC和GaN的出現(xiàn),不僅開啟了電力市場的新篇章,也為晶圓測試行業(yè)帶來了新的考驗。如何在滿足大功率測試需求的同時,保持溫度的穩(wěn)定和準確性,以確保良率,是每個設計工程師都需要考慮的問題。
        半導體測試環(huán)節(jié)最重要的裝備之一就是探針臺,在測試過程中,晶圓被輸送到溫度卡盤上,使晶圓上的晶粒依次與探針接觸并逐個測試。經(jīng)過檢測,探針臺將參數(shù)不符合要求的芯片記錄下來,在進入后序的工藝流程之前予以剔除。在這個過程中,對測試環(huán)境起到?jīng)Q定性作用的便是和晶圓親密接觸的溫度卡盤。
        與普通的測試環(huán)境相比,除了需要保證寬泛的測試溫度范圍、卡盤溫度的均勻性和穩(wěn)定性等,高電壓/電流的特殊測試環(huán)境也為卡盤的設計增加了更多新的挑戰(zhàn)。例如,在大電流的測試環(huán)境下,較大的接觸電阻會加速晶圓溫度升高,如果熱量不能得到及時分散,晶圓就有被損壞的危險,那么在設計溫度卡盤的時候就必須首先要考慮如何最小化接觸電阻,保證RDS(on)的精準測量。其次還需要確保在高壓環(huán)境下低漏電,以避免擊穿的發(fā)生。另外,卡盤還需靈活應對一些特殊類型的晶圓, 如薄晶圓、Taiko等。
 
        在高電壓測試和超低噪聲晶圓針測方面積累了超過15年經(jīng)驗的ERS electronic,針對高電壓/電流的測試環(huán)境,設計了一款可以保證在高達一萬伏的高壓下超低漏電、避免擊穿,并同時兼具寬泛的溫度測試范圍(-55°C到+300°C)的卡盤。它的問世,很好的解決了高電壓/電流的背景下,晶圓測試領域所面臨的諸多難題。

        本文來源:半導體行業(yè)觀察
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